Normgerecht qualifizieren, Risiken früh identifizieren.

Zuverlässigkeitsprüfung für Halbleiter

Wir unterstützen Sie mit Lösungen für Umweltsimulationen und Zuverlässigkeitsprüfungen - von der Entwicklung bis zur produktionsnahen Absicherung nach IEC-, AQG-, JEDEC-, MIL-Standards und weiteren relevanten Normen

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Validieren Sie die Zuverlässigkeit von Logik-Chips, Leistungshalbleitern, Sensoren wie MEMs oder PCB-Baugruppen durch Umwelt- und Lebensdauerprüfungen. Wir unterstützen Sie sowohl in der Qualifikation als auch im laufenden Produktionsmonitoring, um Ausfallmechanismen frühzeitig zu identifizieren und eine stabile Zuverlässigikeit im Feldeinsatz zu sichern - vom Bauteil bis zum System. Auf Wunsch auch unter Reinraumbedingungen.

Environmental Stress Screening (ESS) und beschleunigte Lebensdauertests (Accelerated Life Time Tests) dienen dazu, Frühausfälle (Infant Mortality) zu identifizieren, Ausfallmechanismen frühzeitig zu erkennen und die langfristig Zuverlässigkeit von Halbleiterprodukten sicherzustellen. Wir können Sie entlang der Wertschöpfungskette unterstützen:

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Welche Herausforderungen gibt es für die Halbleiterindustrie

Die Zuverlässigkeitsprüfung moderner Halbleiterbauelemente stellt hohe Anforderungen an die Testumgebung. Komplexe Prüflingsaufbauten, hohe Leistungsdichten, empfindliche Schnittstellen und steigende Anforderungen an Datenintegration führen zu Herausforderungen, die über die reine Klimasimulation hinausgehen.

Kabelmanagement

Stabilität für Prüflingsaufbauten

Leistungsdichten und thermischer Belastungen

Kondensationskontrolle

Data Traceability

Herausforderungen für Kabelmanagement und Schnittstellenintegration
Komplexe Prüfaufbauten mit sensiblen Schnittstellen, hohen Kabeldichten, empfindliche nSiganlleitungen sowie schweren Leistungs- und Hochstromkabeln erforderun strukturierte Kabelmanagement-Konzepte, um SIgnal Störungen, Kurzschlüsse und instabile Prüfergebnisse zu vermeiden.
Lösung für sichere und strukturierte Durchführung unterschiedlicher Kabeltypen
Wir beiten flexible und standardisierte Lösungen für die sichere und strukturierte Durchführung unterschiedlichster Kabletypen. Durch Systeme wie Kerb-, Steckfeldlösungen oder Tür mit Fahrgestell ermöglichen wir komplexe DUT Setups und stabile Integration in den Prüfaufbau.

Kerbdurchführung

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Flachkerbdurchführung

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Steckerfelder

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Fahrbare Tür

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So profitieren Sie von unserer Fachexpertise

Expertise und Erfahrung

Mit zunehmender Leistungsdichte, neuen Halbleitergenerationen und höheren Zuverlässigkeitsanforderungen haben wir unsere Prüf- und Prozesslösungen kontinuierlich weiterentwickelt. Dabei stehen wir im engen Austausch mit Entwicklungs- und Prüfumgebungen weltweit.

Großes Portfolio

Vom Reinraum über Temperatur und Klimaprüfsysteme bis hin zu Prozesswärme bietet Weiss Technik ein außergewöhnlich breites Portfolio. Damit unterstützen wir sowohl die Forschung und Entwicklung als auch die Produktion von Halbleitern, elektronischen Komponenten und kompletten Systemen.

Von Standardgerät bis Sonderbau

Besondere Geometrien, hohe Abwärme, spezifische Normanforderungen oder automatisierte Abläufe erfordern individuelle Konzepte. Gemeinsam mit dem Kunden analysieren wir Prüfling, Prüfziel und Prozessumfeld. Auf dieser Basis empfehlen wir die passende Lösung.

Servicekompetenz weltweit

Mit unserem globalen ServiceNetzwerk unterstützt wir unsere Kunden über den gesamten Anlagenlebenszyklus hinweg. Von Inbetriebnahme und Wartung über Kalibrierung bis hin zu Modernisierung und Retrofit. Ergänzend ermöglichen RemoteServices schnelle Unterstützung und kurze Reaktionszeiten.

Unsere Produkte